频率特性测试仪工作原理

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1、扫频仪工作原理
扫频仪实质上是扫频信号源与示波器X-Y方式的结合。其组成框图及工作波形如图1所示。
频率特性测试仪工作原理
图1 扫频仪组成框图及工作波形
扫频信号源,即频率受控振荡器,在扫描信号u1控制下产生扫频信号u3。
扫描信号源产生的扫描信号u1、扫频起停控制信号u2分别是扫频信号源的频率控制信号及停振控制信号,u1还是示波器的水平扫描信号。
当扫频信号u3为锯齿波电压时,由于正程扫描速度慢,回程扫描速度快,使得扫描正程、扫描回程得到的波形不重合而无法观测,当扫频信号u3为正弦波电压号,u3在扫描回程时停振,使显示出的波形为被测波形和用作水平轴的水平回扫线的组合。
检波探头用于解调出经过被测电路的扫频信号的振幅(包络)变化情况,得到被测电路的幅频特性曲线。
频标形成电路用于产生进行频率标度的频标信号,以便读出各点对应的频率值。
2、产生扫频信号的方法
产生扫频信号的方法很多,比较常用的是变容二极管扫频。图2为变容二极管扫频振荡器原理图,其中VT1组成电容三点式振荡器,变容二极管VD1、VD2与L1、L2及VT1的结电容组成振荡回路,C1为隔直电容,L3为高频扼流圈。
调制信号经L3同时加至变容管VD1、VD2的两端,当调制电压随时间作周期性变化时,VD1、VD2结电容的容量也随之变化,从而使振荡器产生扫频信号。
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图2 变容二极管扫频振荡器原理图
  1. 变容二极管

变容二极管:又称“可变电抗二极管”。是一种利用PN结电容(势垒电容)与其反向偏置电压Vr的依赖关系及原理制成的二极管。所用材料多为硅或砷化镓单晶,并采用外延工艺技术。反偏电压愈大,则结电容愈小。主要参量是:零偏结电容、零偏压优值、反向击穿电压、中心反向偏压、标称电容、电容变化范围(以皮法为单位)以及截止频率等,对于不同用途,应选用不同C和Vr特性的变容二极管,如有专用于谐振电路调谐的电调变容二极管、适用于参放的参放变容二极管以及用于固体功率源中倍频、移相的功率阶跃变容二极管等。
用于自动频率控制和调谐用的小功率二极管称变容二极管。通过施加反向电压,使其PN结的静电容量发生变化。因此,被使用于自动频率控制、扫描振荡、调频和调谐等用途。通常,虽然是采用硅的扩散型二极管,但是也可采用合金扩散型、外延结合型、双重扩散型等特殊制作的二极管,因为这些二极管对于电压而言,其静电容量的变化率特别大。结电容随反向偏置电压Vr变化,取代可变电容,用作调谐回路、振荡电路、锁相环路,常用于电视机高频头的频道转换和调谐电路,多以硅材料制作。

  1. 频标产生电路

扫频仪采用在幅频特性曲线上叠加频标的方法进行频率标度,包括菱形频标和针形频标两种,一般由差频电路产生。

  1. 菱形频标

图3(a)为菱形频标产生原理图,它对扫频信号与标准信号的基波、谐波进行混频而得到“零差频”的菱形频标,如图3(b)所示。设标准信号频率为fs,则谐波信号源输出信号频率为基波fs及各次谐波fs1、fs2、fs3、fs4、fs5、…。扫频信号与谐波信号源输出信号经混频器混频后,再经低通滤波输出差频信号,由此得到一系列零差点。
例如在f=fs1处差频为零,而ffs1点附近差频越来越大,由于低通滤波器的选通性,在靠近零差点的幅度最大,两边信号幅度迅速衰减,于是在f=fs1处形成“菱形频标”。同理,在f=fs2、f=fs3……处也形成菱形频标。菱形频标与幅频特性曲线叠加便出现图3(b)所示的图形,配合标准信号源可读出频标的频率值。
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图3 菱形频标产生原理
菱形频标是由低通滤波器对差频信号的选择性而形成的,其选择性不可能无限高,故菱形频标总要占有一定的宽度,只有在特性曲线上占有的宽度相对较窄时,才能形成相对很细的可分辨的频标,否则频标相互靠近、连接、甚至局部叠加,难以确定频率值。故菱形频标适于高频测量。
BT-3C型频率特性测试仪采用差频法产生菱形频标,为了提高频标的准确度,采用频率分别为1MHz和10MHz的晶体振荡器产生菱形频标。

  1. 针形频标

在低频扫频仪中常用针形频标,其产生方法与菱形频标相似。利用菱形差频信号触发单稳触发器,使之输出一个窄脉冲,窄脉冲经整形后再与幅频特性曲线在Y放大器中叠加,最后出现在幅频特性曲线上。窄脉冲的宽度可由单稳触发器调节得很窄,所以产生的频标形似细针,称之为针形频标,适用于低频测量。例如,BT-4型低频频率特性测试仪即采用针形频标。

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