(1)V(BR)CBO────e极开路,c-b结的反向击穿电压。此时流经c-b极的是ICBO。当反向电压VCB增至一定程序时,ICBO急剧增大,最后导致击穿。
(2)V(BR)CEO--b极开c-e极之间的反向击穿电压。此时流经c-e极的是ICEO。当反向电压VCE增加到ICEO开始上升时的VCE就是V(BR)CEO。应该注意,在此情况下,当集电结开始击穿时,IC增大,同时发射结分到的正向电压增大,使e区注入b区的电子增多,IE增大。IE的增大又将使IC进一步增大。所以,这里有一个培增效应,而最后使c-e极之间击穿电压V(BR)CEO要比V(BR)CBO小即V(BR)CEO>V(BR)CBO。
(3)V(BR)CER和V(BR)CES--b-e极之间接电阻(R)和短路(S)时的V(BR)CE。在b-e极之间接电阻R后,发射结被分流。当集电结反向电流ICBO流过b极时,由于分流而使流过发射结的电流减少。所以,在上面(2)中所说的倍增效应减小,为了进入击穿状态,必须加大VCE。也就是说,V(BR)CER>V(BR)CEO。电阻R愈小,它对发射结的分流作用愈大,所以进入击穿状态时,所需的VCE愈大。当R=0并略去基区的体电阻rbb`,则发射结相当于短路。此时V(BR)CBO≈V(BR)CES。
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